更新时间:2026-04-29
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在光化学、材料老化、紫外光源检测及集成电路光刻等制造与科研领域,紫外辐照度的精确测量直接关系到产品质量、实验数据的可信度以及工艺控制水平。为满足行业对紫外测量“高精度、宽量程、多场景"的严苛需求,我们推出UV-A型紫外辐照计,一款基于SMT贴片工艺与数字芯片技术的专业测量仪器,为各类紫外辐照测量工作提供一体化、高可靠的解决方案。
UV-A型紫外辐照计配备双通道探头,精准覆盖两大关键紫外波段:
λ1 探头:波长范围 320~400nm,峰值波长 365nm——适用于紫外固化、光化学激发、高压汞灯检测等典型UVA波段测量。
λ2 探头:波长范围 375~475nm,峰值波长 420nm——拓展至近紫外与紫光区域,满足LED紫外光源、光刻机曝光强度监控等新兴应用。
双探头设计让用户无需购置多台仪器,即可灵活应对不同光谱范围的测试任务,显著提升设备利用效率。
| 核心指标 | 性能表现 |
|---|---|
| 辐照度测量范围 | (0.1~199.9×10³) μW/cm²,覆盖从微弱环境光到高强度工业紫外光源 |
| 相对示值误差 | ±8%(相对于NIM标准),确保量值溯源可靠性 |
| 角度响应特性 | ±5%(α≤10°),经过严格角度特性校正,减少入射角偏差 |
| 紫外带外区杂光 | 仅0.02%,有效抑制非目标波段干扰 |
| 线性误差 | ±1% |
| 换档误差 | ±1% |
| 短期不稳定性 | ±1%(开机30分钟后) |
| 疲劳特性 | 衰减量<2%,长期使用读数稳定 |
| 零值误差 | 满量程的±1% |
| 响应时间 | <1秒,实时捕捉辐照度变化 |
这些参数共同构成了一个高置信度的测量闭环:从宽动态范围、低杂光干扰,到快速响应与低长期衰减,确保无论在实验室还是生产现场,都能获得可重复、可对比的可靠数据。
UV-A型紫外辐照计不仅“测得准",更“用得好":
数字液晶显示 + 背光:暗环境或强光下读数依然清晰。
手动/自动量程切换:根据信号强度自动匹配最佳量程,也可手动锁定,避免频繁跳变。
USB数字输出接口:支持数据实时上传至计算机,并具备冗余供电功能,延长连续工作时间。
低电量提醒 + 自动延时关机:避免因电量不足导致测量中断,同时延长电池续航。
数据保持与蜂鸣按键反馈:一键锁定当前读数,轻触按键即有蜂鸣提示,操作确认无盲区。
轻量化便携机身:160mm×78mm×43mm,仅重0.2kg,配备9V积层电池供电,整机功耗低于0.1VA。
仪器可在温度0~40℃、湿度<85%RH的环境下稳定运行。流线型外壳与探头盖设计,兼顾防尘与便携存储需求。标配的360nm、420nm双探头均经过光谱及角度特性严格校正,出厂即用。
光化学实验:精确控制反应箱内的紫外曝光强度,提升重复性。
高分子材料老化试验:监测氙灯或紫外老化箱的辐照度,确保加速老化条件一致。
紫外光源生产与质检:对UV-LED、高压汞灯等进行批量出厂测试。
大规模集成电路光刻:监督光刻机紫外照明系统的均匀性与稳定性。
医疗与消毒设备:验证紫外消毒设备的输出强度是否符合标准。
标准配置包含:主机、360nm探头、420nm探头、探头盖2个、数据线、说明书、合格证以及9V电池。用户无需额外采购配件,即可立即展开测量工作。